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某芯片測(cè)試工裝

時(shí)間:2024-08-02

點(diǎn)擊:427

某芯片測(cè)試工裝.jpg


行       業(yè):科研

設(shè)計(jì)內(nèi)容:硬件設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)

設(shè)計(jì)時(shí)間:2022

產(chǎn)品簡(jiǎn)述:通過(guò)單片機(jī)控制,實(shí)現(xiàn)待測(cè)芯片引腳1對(duì)N及N對(duì)N多種選通方式,通過(guò)施加不同的電壓、脈沖,獲取待測(cè)芯片不同的響應(yīng)時(shí)間與結(jié)果,以網(wǎng)口通訊傳輸?shù)缴衔粰C(jī)獲取測(cè)試數(shù)據(jù),從而評(píng)判待測(cè)芯片性能。


設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì):昱櫟技術(shù)